SPECIFIC
X線基板検査装置
X線ステレオ方式 3次元X線装置
X線ステレオ方式 3次元X線装置
FX-300tRX2 with CT
コンパクトな小型X線装置
拡大率1000倍を達成
- 幾何学倍率1000倍の高解像度
- 独自の『X線ステレオ方式®』 裏面情報キャンセル可能
- 斜め観察でも倍率低下なし
- 観察位置自動追従による斜め観察可能
- チップカウンター機能あり
特長
FEATURES01

幾何学倍率1000倍の高解像度
・1.4倍~1000倍の高解像度で検査可能
・ターゲット~試料0.5㎜、ターゲット~X線カメラ500㎜
500/0.5=1000倍達成
FEATURES02

独自の『X線ステレオ方式®』
裏面情報キャンセル可能
・基板表面と裏面の切り分け検査が可能
・数秒での高速検査(断層画像を必要としないため)
・BGA、LGA、QFNなどにも対応可能
FEATURES03

斜め観察の倍率低下なし
観察位置自動追従による斜め観察可能
・X線ステレオCT方式を採用
実装基板の上面から下面までを300層にスライス
・対象ワークをターンテーブルで360°回転させて画像取得
・ボリュームレンダリングソフトウエアを採用
3D出力、断層アニメーション出力も可能
FEATURES04

チップカウンター機能あり
・約30秒でカウント可能
・リールに巻かれたエンボステープ内の電子部品に対応可能
(角チップ、IC、LED、その他電子部品 など)
・テープリール状態のままセット可能
・カウント数量をバーコードとリンクし、CSVファイル出力可能
以下の方にお勧めです
- BGAはんだ接合部のクラック検査
- BGAにおける未接合はんだの確認
- ICのワイヤーボンディング接続状態の評価
- LGAにおける接続不良の検出
- ウェーハバンプの均一性と精度の検査
- 基板スルーホールはんだの内部状態確認
- パワーデバイスパッケージの空隙や欠陥の検出
- 多層基板内部の欠陥確認
- 品質管理時のX線画像の解像度確認
- 大量生産ラインでの自動検査の実施

基本仕様
X線管種類 | マイクロフォーカス密閉型源(密閉型) |
---|---|
X線ターゲット位置 | 透過型ターゲット(開放管と同じ方式) |
X線管電圧、管電流 | 30~90kV、0~60μA |
X線解像度 | 5μm |
ターゲット回転機構 | 500h毎にターゲット回転、メッセージ出力 |
検査トレイサイズ | 330×250mm |
X-Y軸ストローク | X軸:330mm,Y軸:250mm |
Z1軸ストローク | Z1(X線カメラ上下):150~500mm |
Z2軸ストローク | Z2(X線管上下):0~140mm |
Q軸ストローク | Q軸(X線カメラ傾斜):0~60° |
幾何学倍率 | 幾何学倍率:1000倍 X線源-サンプル距離= 0.5mm X線源-受光部距離=500mm、500/0.5=1000倍 |
モニタ表示倍率 ※)他社密閉管の表示倍率と同等に記述した場合 | モニタ表示倍率:6000倍 X線受光部センサ寸法=50×50mm 24インチモニタ表示エリア寸法= 300×300mm 画像表示寸法/X線受光部= 300 / 50 =6倍 幾何学倍率×表示拡大率= 1000×6= 6000倍 |
X線画像分解能 | 130万画素、1180×1080pixel,14bit(16,384階調) |
CCDカメラ部種類 | カラーCCDカメラ(ワーク撮影用) |
表示ディスプレイ | 24インチLCD |
エアー供給 | ー |
電源 | 単相AC200V,1.5KVA |
装置寸法 | 1.3(W)×1.1(D)×1.45(H)m |
装置重量 | 1200kg |
オプション | ステレオCT、V-CT(垂直方向)、P-CT(斜め方向)、マニブレータ、ターンテーブル、自動検査、リペアステーション(QRトレサビリティ対応) |
X線漏洩線量 | 1μSv/h以下、X線取扱資格は不要(国外では設置国の法令に従ってください) |
X線ステレオ方式、X線ステレオCT方式は、株式会社アイビットの登録商標です。